Oberflächen- und Nanostrukturanalytik

Oberflächencharakterisierung durch Oberflächenanalytik und Nanostrukturanalytik

Röntgenphotoelektronen
Röntgenphotoelektronen
Flugzeit-Sekundärionenmassenspektro- metrie
© Fraunhofer IFAM
Flugzeit-Sekundärionenmassenspektro- metrie (TOF-SIMS) zur Analyse der molekularen Oberflächenzusammensetzungen
Transmissionselektromikroskopie
© Fraunhofer IFAM
Transmissionselektronenmikro- skopie (TEM) zur hochauflösenden Abbildung der Probenmorphologie

Viele technische Eigenschaften und Funktionen wie z. B. Adhäsion, Benetzungsverhalten, Korrosion, Biokompatibilität, Reibung, Katalyse oder Aussehen hängen entscheidend von der chemischen und der morphologischen Struktur der äußersten Oberfläche des jeweiligen Materials ab. Eine Optimierung dieser Eigenschaften erfordert daher detaillierte Kenntnisse über die chemische Zusammensetzung und die topographischen Eigenschaften der Oberfläche.

Portfolio und Ausstattung

Für eine umfassende Oberflächencharakterisierung steht den Experten der Oberflächen- und Nanostrukturanalytik am Fraunhofer IFAM ein breites Spektrum an analytischen und abbildenden Techniken zur Verfügung:

Arbeitsschwerpunkte

  • Charakterisierung und Bewertung von Oberflächenvorbehandlungen und funktionellen Beschichtungen
  • Untersuchung von Adhäsionsmechanismen und Alterungsmechanismen